一、Loresta-GX 低阻抗率計測試儀 MCP-T700 設備性能與特點
測量原理：基于直流四探針法，可直接測量樣品的電阻率與方阻，無需復雜的樣品前處理。設備支持自動電流換向，有效降低熱電勢對低阻測量結果的影響，提升數據穩定性。
探頭兼容性：可搭配 ASP、LSP、ESP 等多種探頭，適配不同形態的樣品，包括 ITO 導電膜、碳漿、導電塑料、金屬鍍層、半導體晶圓等。
操作與數據管理：配備數字顯示屏，可直接讀取測量結果。支持 USB 數據輸出，可連接電腦或 U 盤導出數據，便于實驗記錄與追溯。
二、核心技術參數
測量范圍：電阻率 10?? ~ 10? Ω?cm；方阻 10?3 ~ 10? Ω/□
測量方式：直流四端子法
探頭接口：支持多種專用探頭擴展
電源：AC 100~240V，50/60 Hz
機身尺寸：約 320×285×110 mm，重量約 2.4 kg
三、典型應用場景
電子材料：ITO、銀漿等導電薄膜的方阻均勻性檢測。
新能源行業：鋰電池集流體、導電涂層的電阻率測試。
化工與材料：抗靜電塑料、電磁屏蔽材料的性能評估。
半導體行業：硅片、鍺片等晶圓的電阻率快速篩選。
四、Loresta-GX 低阻抗率計測試儀 MCP-T700 使用與維護說明
樣品準備：測量前需確保樣品表面清潔，無油污或氧化層，避免影響接觸效果。
探頭使用：根據樣品類型選擇合適探頭，輕壓在樣品表面即可完成測量，避免用力按壓損傷探頭或樣品。
日常維護：定期清潔探頭表面，保持探針的潔凈；按設備手冊要求定期進行校準，確保測量精度。
注意事項：設備應放置在干燥、無強電磁干擾的環境中使用，避免在高溫高濕條件下長時間運行。
